電子負(fù)載的功能概述

電子負(fù)載是通過(guò)控制內(nèi)部功率（MOSFET）或晶體管的導(dǎo)通量（量占空比大?。揽抗β使艿暮纳⒐β氏碾娔艿脑O(shè)備。它能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出負(fù)載電壓，調(diào)整負(fù)載電流，同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)模擬負(fù)載短路，模擬負(fù)載是感性阻性和容性，容性負(fù)載電流上升時(shí)間。 一般開(kāi)關(guān)電源的調(diào)試檢測(cè)是*的。

電子負(fù)載應(yīng)該有完善的保護(hù)功能。保護(hù)功能分為對(duì)內(nèi)（電子負(fù)載）保護(hù)功能和對(duì)外（被測(cè)設(shè)備）保護(hù)功能。對(duì)內(nèi)保護(hù)有：過(guò)壓保護(hù)，過(guò)流保護(hù)，過(guò)功率保護(hù)，電壓反向和過(guò)溫保護(hù)。對(duì)外保護(hù)有：過(guò)流保護(hù)，過(guò)功率保護(hù)，吃載電壓和低電壓保護(hù)。選擇電子負(fù)載應(yīng)該選擇是擁有真保護(hù)功能的電子負(fù)載。如果功能是由硬件實(shí)現(xiàn)的，保護(hù)速度會(huì)很快。如果是由軟件實(shí)現(xiàn)，速度有滯后性，并且模組死機(jī)的話(huà)將會(huì)發(fā)生危險(xiǎn)。

電子負(fù)載可用幾種方法執(zhí)行電源測(cè)試。它們一般是可編程的，但大多數(shù)電子負(fù)載需要外部DAC編程器。這一能力在測(cè)試期間能控制負(fù)載值，為測(cè)試裝置操作者提供有價(jià)值的狀態(tài)信息。電子負(fù)載通常采用FET設(shè)計(jì)，它比采用繼電器和電阻器的解決方案更可靠，也更簡(jiǎn)易，還可選擇工作模式：恒流(CC)、恒壓(CV)和恒阻(CR)。較復(fù)雜的電子負(fù)載在一臺(tái)產(chǎn)品中都會(huì)提供這三種模式，具有高的測(cè)試靈活性，并且還提供測(cè)量直流電壓和電流這兩種電源的通用解決方案。電子負(fù)載的后一項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)是可提供通過(guò)總線(xiàn)的回讀，而無(wú)需使用一些測(cè)試中測(cè)量電壓和電流的數(shù)字多用表。